如果作加速寿命试验,上限温度应如何选取呢?
本帖最后由hexiangyun1于2011-6-2309:43编辑我单位要评估某块印制板可靠性(上面有200多个电子器件)可靠度要求高,寿命时间长,可供试验的样品少(十余块),没有以前积累的数据。想作加速寿命试验,如果温度选的低时间会长得无法接受,请教各位高手:如果做两组试验温度值(尤其是上限温度值)应如何定才好呢? PCB和元器件有个使用温度上限吧,选低的那个好了。
想评价的失效模式是什么?不同模式有不同试验的,也有很多途径省时间的,不必一定要按国际标准规定的时间做。 做板卡的高温步进应力测试,找出高温工作极限,则加速寿命的温度上限比高温工作低5或10度即可。 因为缺乏数据,目前还没有失效的案例。请教2楼朋友能否举几个省试间途径的例子。谢谢! 做一下温升实验,量测出板子上所有元器件的温升有多少(200多个元件很快的,如果嫌麻烦就量一些主要发热元件也就可以了),再查一下板子上元件允许的最高工作温度。(允许最高温-温升)就可以大致得出你所需要的温度了。一般来说选个80-90度也差不多了。 要考虑PCB的实际使用温度以及板子上元件的SPEC、板子的Tg温度等 回复6#victor-he 谢谢各位的指教。
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