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    安小鹏

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    可靠性加速寿命测试_Arrhenius 模型&Ea(激活能)取值
      这些天重新看了下经常使用的几个可靠性加速模型,Arrhenius模型,Eyring模型,以及Eyring模型的拓展Peck Temperature-Humidity 模型。今天先分享下常用的Arrhenius(阿伦纽斯)模型计算以及通过Arrhenius模(查看原文)
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    可靠性测试中HALT实验与HASS实验的区别
    什么是HALT试验?    HALT(Highly Accelerated Life Test)的全称是高加速寿命试验。HALT是一种通过施加逐级递增的环境应力或工作载荷,来加速暴露产品的缺陷和薄弱点的试验方法。主要应用于产品开发阶段,它能以较短(查看原文)
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    电子器件是一个非常复杂的系统,其封装过程的缺陷和失效也是非常复杂的。因此,研究封装缺陷和失效需要对封装过程有一个系统性的了解,这样才能从多个角度去分析缺陷产生的原因。封装的失效机理可以分为两类:过应力和磨损。过应力失效往往是瞬时的、灾难性的;磨损失效是长期的累积损坏,往往首先表示(查看原文)
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