紧急求助 活化能Ea 可靠性技术 新手提问 07年7月16日 编辑 echoxfs 取消关注 关注 私信 请教各位大虾,有没有关于Bellcore推荐的活化能Ea值的相关资料? 活化能Ea值除了Bellcore推荐的之外,还有没有其他的资料可以查到活化能Ea值啊? 需要通过加速寿命试验预估产品的MTBF,但是产品成本太高,产量也不是很大,所以没办法拿出很多产品来做加速寿命试验(最多不会超过5个产品),公司之前没有做过任何关于MTBF的试验,关于活化能Ea也没有任何资料和参考数据,该如何进行试验得到MTBF值? 以上请各位大虾不吝赐教,多谢!:handshake 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
keegan lv2lv2 14年1月6日 [quote]cliffcrag发表于2007-7-1612:01[url=pid=4130&ptid=936][/url] EA=[(K*T1*T2)/(T2-T1)]*ln(k2/k1) •T2为加速温度下的失效率 [/quote] 请问,您帖子公式里面的T1,T2到底代表的是加速温度,还是失效率?K1,K2是指温度?
rocketeer lv2lv2 11年4月2日 那有沒有哪位牛人有做過系統及別的Ea?比如果是multidie的overallEa? 只是很弱弱的問問!當然,我們可以將器件分開成好幾個部分:焊球,PCB基版,silicondevice等等來看不同的Ea………….. v_v||||
jych312 lv2lv2 09年6月23日 JEDEC对于印刷电路板的推荐值为0.7eV 对于印制板的Ea推荐值为0.7eV,这个是在哪里可以查到,我们也想做这样的测试,但是一直查不到Ea怎么取值,请版主赐教
adminM可靠性网管理员 黄金会员lv6lv6 08年1月25日 是啊,可以先看看中文版的,那样理解快点。 [url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-667-1-1.html]MIL-HDBK-338中文版[/url] [url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-1258-1-1.html][color=#800080]MIL-HDBK-338中文版之二[/url] [url=https://www.kekaoxing.com/d/uploads/standard/Mil-Hdbk-338B.pdf][b][size=4]点击下载英文版:Mil-Hdbk-338B.pdf[/b][/url][b][size=4][/b]
angel8679 lv3lv3 07年7月25日 MTTF是平均失效时间,一般是通过实验得出数据,MTTF(MeanTimeToFailure)平均失效时间 假如对n个相同的系统(硬件或软件)进行测试,他们的失效时间 分别是t1,t2,…,tn,则MTTF定义为 n MTTF=1/n∑ti i=1 电子产品做可靠性预计的时候,那些数据的来源是根据指数分布进行的,但是一般产品都是按照威布尔分布进行分析的
echoxfsA lv4lv4 07年7月25日 非常感谢! 我已将这篇文章收藏,非常不错!不过关于Ea,资料只能给出一些元器件的,对于整机就只能通过试验获得相应的数据,虽然理论知识懂一些,知道如何得出产品的活化能和加速系数,不过实际情况又没有那么多产品,所以不知道怎么开展,想要请教一下,是否有哪位曾经也遇到过同样的问题,怎么解决的。 最近你解答了我很多疑问呢,非常感谢!
338 lv4lv4 07年7月25日 建议LZ看看这篇文章,看有没有什么收获: 加速寿命试验理论依据:[url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-48-1-1.html[/url]
echoxfsA lv4lv4 07年7月20日 哦?:o 那里面都没有提到过MTTF. 有一个问题请教一下,客户提出的需求说MTBF=15000,那这个到底是检验下限,还是检验上限,还是观测值啊?我都搞不清楚了。:L
adminM可靠性网管理员 黄金会员lv6lv6 07年7月20日 hukee是看到我那篇文章,就以为我很了解,其实这方面我确实是不知道,卡方或k-sMTTF真的是知之甚少, 惭愧,hukee在QQ群里也大闹,说我知道的不告诉他,呵呵。小心我K你哦。:lol
echoxfsA lv4lv4 07年7月20日 [quote]原帖由[i]hukee[/i]于2007-7-1821:42发表[url=pid=4287&ptid=936][/url] 关于mttf公式是有的,这方面admin知道,但是他都不说,我就不好说了,这个公式和卡方或k-s有关。指数分布还是威布尔分布是用于计算R(t)的,通过r,于t的关系。和这个mttf没关系。[/quote] admin: hukee说你那有关于计算MTTF的资料,是不是真的阿?可不可以拿来共享一下,让咱也学习一下呗!:victory::lol:handshake
hukee lv4lv4 07年7月18日 [quote]原帖由[i]echoxfs[/i]于2007-7-1711:06发表[url=pid=4171&ptid=936][/url] MTTF是怎么计算出来?是指第一个失效发生的时间还是几个失效发生后再平均出来的时间? 计算Ea的时候和产品的寿命分布形式有没有关系啊? 一般的电子产品基本上是符合指数分布还是威布尔分布啊?[/quote] 关于mttf公式是有的,这方面admin知道,但是他都不说,我就不好说了,这个公式和卡方或k-s有关。指数分布还是威布尔分布是用于计算R(t)的,通过r,于t的关系。和这个mttf没关系。
echoxfsA lv4lv4 07年7月17日 MTTF是怎么计算出来?是指第一个失效发生的时间还是几个失效发生后再平均出来的时间? 计算Ea的时候和产品的寿命分布形式有没有关系啊? 一般的电子产品基本上是符合指数分布还是威布尔分布啊?
echoxfsA lv4lv4 07年7月17日 如果用温度作为加速应力的话应该都用Arrhenius模型吧? 如果通过自己做试验得出的Ea在各个温度点之间应该会有点差距,因为试验数据本身就会有误差,但是Arrhenius认为对于某失效机理,在500K以下Ea是不随温度变化的常数。 还有,请教一下,实际测算两个应力点得出Ea具体怎么实现啊?我只有5个产品。 [[i]本帖最后由echoxfs于2007-7-1710:11编辑[/i]]
hukee lv4lv4 07年7月16日 刚才细看了一下,admin出的那个公式怎么和我用的不一样。我的是EA=K(1/T2-1/T1)Ln(MTTF2/MTTF1),这个是Arrhenius推导出来的。
hukee lv4lv4 07年7月16日 admin,说的有些道理,但是有错误的地方,那就是每个温度点之间的ea不是一定的,这点请大家明白。不同的加速模型,对应的反向推导公式也是不同的,但是它们都是需要实际测算2个应力点的。
echoxfsA lv4lv4 07年7月16日 是我的邮箱,非常感谢! 我一直都想找这方面的资料,但是找到的也都是理论性很强的那种,都要通过大量产品进行试验后得出的,没做过那么复杂的试验,而且也没有那么多的产品。我以前那家公司也是直接用0.6的,不过是普通消费性电子产品。现在产品这么少,都不知道怎么去做这个试验。 谢谢!
reliability lv6lv6 07年7月16日 [i=s]本帖最后由cliffcrag于2011-6-1814:36编辑[/i] 我们在做一款军品类产品的时候,就用过0.6的EA, 这个激活能我也不是很熟悉,看过几篇文章的介绍,但是都没怎么深入的了解过,所以现在大家用的0.6是推荐的值. 你问我直接用EA为0.6是否可用,呵,我也没法和你说可不可用,当然具体是否应用还是看你的理解了,另:shamoudelinhun是你的邮箱吧,今天晚上回去后看找篇关于EA介绍的文章发给你看看. [url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-6057-1-1.html[/url] 7楼附件可以看看试验方法。
echoxfsA lv4lv4 07年7月16日 非常感谢! 不过我还有几个问题~_^ 1.我们产品还处在研发设计阶段,而且没有类似产品也没有相应的参考资料 或数据,所以公式中用到的T2加速温度下的失效率&T1常温下的失效 率没有办法得到。 2.我们的产品不是普通消费性电子产品,其他所有测试规格都是按照GJB来制 定的,我不知道如果直接将Ea用0.6是否可以?
reliability lv6lv6 07年7月16日 EA=[(K*T1*T2)/(T2-T1)]*ln(k2/k1) •T2为加速温度下的失效率 •T1为常温下的失效率 •K1、K2为加速和常温的K氏温度 •K为Boltzmann常数(8.623*10-5eV/K) *JEDEC对于印刷电路板的推荐值为0.7eV *某电脑公司对于电脑系统的推荐值为0.5eV *推荐值的范围大部分落在0.5eV~0.7eV之间 [size=3][color=blue]因为大部份文章或标准推荐0.5eV~0.7eV,所以我在计算的时候常用的是:0.6 下面是一个不同器件的EA参考值,很久以前我在一个老论坛发过.你参考一下: ACCELERATIONFACTORACTIVATIONENERGYCALCULATIONNOMINALACTIVATIONENERGY [table=310][tr][td]COMPONENT[/td][td]Ea(eV)[/td][/tr][tr][td]Transformers[/td][td]0.5[/td][/tr][tr][td]Resistors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]R-Pacs[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Inductors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Capacitors[/td][td]0.6[/td][/tr][tr][td]LinearModules[/td][td]0.7[/td][/tr][tr][td]Diodes[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]BridgeRectifiers[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]Transistors[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]OpticalIsolators[/td][td]1[/td][/tr][/table]
怎么搞的啊?:Q
[quote]cliffcrag发表于2007-7-1612:01[url=pid=4130&ptid=936][/url]
EA=[(K*T1*T2)/(T2-T1)]*ln(k2/k1)
•T2为加速温度下的失效率
[/quote]
请问,您帖子公式里面的T1,T2到底代表的是加速温度,还是失效率?K1,K2是指温度?
关于电池的这方面研究好少,有没有朋友做过这方面的研究,欢迎共享。
最近也是有客户来咨询有关塑料的加速试验的,但对于Ea的选择不是很清楚。哪位高人可否告知塑料的Ea是多少呀?有可查询的资料标准吗?
那有沒有哪位牛人有做過系統及別的Ea?比如果是multidie的overallEa?
只是很弱弱的問問!當然,我們可以將器件分開成好幾個部分:焊球,PCB基版,silicondevice等等來看不同的Ea…………..
v_v||||
版主知不知道VDMOS器件的激活能是多少,指的是中小功率的VDMOS器件
JEDEC对于印刷电路板的推荐值为0.7eV
对于印制板的Ea推荐值为0.7eV,这个是在哪里可以查到,我们也想做这样的测试,但是一直查不到Ea怎么取值,请版主赐教
好东西呀。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。
谢谢各位高手,已经下了中文版,正在潜心修炼,不懂得地方以后再来向大家讨教
是啊,可以先看看中文版的,那样理解快点。
[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-667-1-1.html]MIL-HDBK-338中文版[/url]
[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-1258-1-1.html][color=#800080]MIL-HDBK-338中文版之二[/url]
[url=https://www.kekaoxing.com/d/uploads/standard/Mil-Hdbk-338B.pdf][b][size=4]点击下载英文版:Mil-Hdbk-338B.pdf[/b][/url][b][size=4][/b]
你可以先考虑先看中文版的,然后再去看英文版的,这样比较快呵呵
这里的高手太厉害了,mil-hdbk-338B有一千四百多页,还都是英文的,居然都能看得那么透彻,佩服佩服,看来我太落后了!
MTTF是平均失效时间,一般是通过实验得出数据,MTTF(MeanTimeToFailure)平均失效时间
假如对n个相同的系统(硬件或软件)进行测试,他们的失效时间
分别是t1,t2,…,tn,则MTTF定义为
n
MTTF=1/n∑ti
i=1
电子产品做可靠性预计的时候,那些数据的来源是根据指数分布进行的,但是一般产品都是按照威布尔分布进行分析的
非常感谢!
我已将这篇文章收藏,非常不错!不过关于Ea,资料只能给出一些元器件的,对于整机就只能通过试验获得相应的数据,虽然理论知识懂一些,知道如何得出产品的活化能和加速系数,不过实际情况又没有那么多产品,所以不知道怎么开展,想要请教一下,是否有哪位曾经也遇到过同样的问题,怎么解决的。
最近你解答了我很多疑问呢,非常感谢!
建议LZ看看这篇文章,看有没有什么收获:
加速寿命试验理论依据:[url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-48-1-1.html[/url]
站在客户的角度应该是检验下限,客户当然不会说我的产品MTBF上限是15000!
哦?:o
那里面都没有提到过MTTF.
有一个问题请教一下,客户提出的需求说MTBF=15000,那这个到底是检验下限,还是检验上限,还是观测值啊?我都搞不清楚了。:L
加速寿命试验知识.pdf问题请教贴子:里面第8楼:[url]tid=797&page=1#pid4138[/url]
你看过的。
是哪篇文章阿?可不可以传上来看一下,谢谢!
hukee是看到我那篇文章,就以为我很了解,其实这方面我确实是不知道,卡方或k-sMTTF真的是知之甚少,
惭愧,hukee在QQ群里也大闹,说我知道的不告诉他,呵呵。小心我K你哦。:lol
[quote]原帖由[i]hukee[/i]于2007-7-1821:42发表[url=pid=4287&ptid=936][/url]
关于mttf公式是有的,这方面admin知道,但是他都不说,我就不好说了,这个公式和卡方或k-s有关。指数分布还是威布尔分布是用于计算R(t)的,通过r,于t的关系。和这个mttf没关系。[/quote]
admin:
hukee说你那有关于计算MTTF的资料,是不是真的阿?可不可以拿来共享一下,让咱也学习一下呗!:victory::lol:handshake
[quote]原帖由[i]echoxfs[/i]于2007-7-1711:06发表[url=pid=4171&ptid=936][/url]
MTTF是怎么计算出来?是指第一个失效发生的时间还是几个失效发生后再平均出来的时间?
计算Ea的时候和产品的寿命分布形式有没有关系啊?
一般的电子产品基本上是符合指数分布还是威布尔分布啊?[/quote]
关于mttf公式是有的,这方面admin知道,但是他都不说,我就不好说了,这个公式和卡方或k-s有关。指数分布还是威布尔分布是用于计算R(t)的,通过r,于t的关系。和这个mttf没关系。
cliffcrag:
帮忙也发给小弟一份,谢谢
gabriel.li@auo.com
MTTF是怎么计算出来?是指第一个失效发生的时间还是几个失效发生后再平均出来的时间?
计算Ea的时候和产品的寿命分布形式有没有关系啊?
一般的电子产品基本上是符合指数分布还是威布尔分布啊?
如果用温度作为加速应力的话应该都用Arrhenius模型吧?
如果通过自己做试验得出的Ea在各个温度点之间应该会有点差距,因为试验数据本身就会有误差,但是Arrhenius认为对于某失效机理,在500K以下Ea是不随温度变化的常数。
还有,请教一下,实际测算两个应力点得出Ea具体怎么实现啊?我只有5个产品。
[[i]本帖最后由echoxfs于2007-7-1710:11编辑[/i]]
刚才细看了一下,admin出的那个公式怎么和我用的不一样。我的是EA=K(1/T2-1/T1)Ln(MTTF2/MTTF1),这个是Arrhenius推导出来的。
admin,说的有些道理,但是有错误的地方,那就是每个温度点之间的ea不是一定的,这点请大家明白。不同的加速模型,对应的反向推导公式也是不同的,但是它们都是需要实际测算2个应力点的。
各位大俠是否有關於EA的書籍可否傳給我一份TKS信箱為:[email]junwei.yan@sh.coretronic.com[/email]
是我的邮箱,非常感谢!
我一直都想找这方面的资料,但是找到的也都是理论性很强的那种,都要通过大量产品进行试验后得出的,没做过那么复杂的试验,而且也没有那么多的产品。我以前那家公司也是直接用0.6的,不过是普通消费性电子产品。现在产品这么少,都不知道怎么去做这个试验。
谢谢!
[i=s]本帖最后由cliffcrag于2011-6-1814:36编辑[/i]
我们在做一款军品类产品的时候,就用过0.6的EA,
这个激活能我也不是很熟悉,看过几篇文章的介绍,但是都没怎么深入的了解过,所以现在大家用的0.6是推荐的值.
你问我直接用EA为0.6是否可用,呵,我也没法和你说可不可用,当然具体是否应用还是看你的理解了,另:shamoudelinhun是你的邮箱吧,今天晚上回去后看找篇关于EA介绍的文章发给你看看.
[url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-6057-1-1.html[/url]
7楼附件可以看看试验方法。
非常感谢!
不过我还有几个问题~_^
1.我们产品还处在研发设计阶段,而且没有类似产品也没有相应的参考资料
或数据,所以公式中用到的T2加速温度下的失效率&T1常温下的失效
率没有办法得到。
2.我们的产品不是普通消费性电子产品,其他所有测试规格都是按照GJB来制
定的,我不知道如果直接将Ea用0.6是否可以?
EA=[(K*T1*T2)/(T2-T1)]*ln(k2/k1)
•T2为加速温度下的失效率
•T1为常温下的失效率
•K1、K2为加速和常温的K氏温度
•K为Boltzmann常数(8.623*10-5eV/K)
*JEDEC对于印刷电路板的推荐值为0.7eV
*某电脑公司对于电脑系统的推荐值为0.5eV
*推荐值的范围大部分落在0.5eV~0.7eV之间
[size=3][color=blue]因为大部份文章或标准推荐0.5eV~0.7eV,所以我在计算的时候常用的是:0.6
下面是一个不同器件的EA参考值,很久以前我在一个老论坛发过.你参考一下:
ACCELERATIONFACTORACTIVATIONENERGYCALCULATIONNOMINALACTIVATIONENERGY
[table=310][tr][td]COMPONENT[/td][td]Ea(eV)[/td][/tr][tr][td]Transformers[/td][td]0.5[/td][/tr][tr][td]Resistors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]R-Pacs[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Inductors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Capacitors[/td][td]0.6[/td][/tr][tr][td]LinearModules[/td][td]0.7[/td][/tr][tr][td]Diodes[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]BridgeRectifiers[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]Transistors[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]OpticalIsolators[/td][td]1[/td][/tr][/table]