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    半导体材料冷热冲击试验箱

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      任务达人

      半导体材料冷热冲击试验箱产品用途:

      是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业备的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经及高温及低温的连续环境下忍受的程度,得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

      半导体材料冷热冲击试验箱产品型号及技术参数:(W×H×D) (mm)

      TS-49 内箱尺寸:350×350×400 外箱尺寸:1560×1750×1440

      TS-80 内箱尺寸:500×400×400 外箱尺寸:1700×1800×1440

      TS-100 内箱尺寸:600×400×400 外箱尺寸:1800×1800×1440

      TS-150 内箱尺寸:600×500×500 外箱尺寸:1800×1900×1540

      TS-250 内箱尺寸:700×600×600 外箱尺寸:1900×2000×1640

      TS-480 内箱尺寸:800×800×750 外箱尺寸:2020×2250×2150

      温度范围:A:-40~+150 ℃ B:-50~+150℃ C:-60~+150℃

      源:∮5W AC38O±10% 50/60HZ

      高温室:预热温度范围,RT+20℃~200℃

      升温时间:+20℃~+200℃约30min

      低温室:预冷温度范围,RT~-80℃

      降温时间:+20℃~-80℃约80min

      实验室冲击:温度均匀度±2.0℃

      半导体材料冷热冲击试验箱

      半导体材料冷热冲击试验箱产品特性:

      1.产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究。

      2.设备分为高温室、低温室、测试室三部分,采独特之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物完全静止,应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。

      3.采用触控式液晶(LCD)显示人机介面专用控制器,先进的计测装置,操作简单,学习容易,稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。

      4.具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59大分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转,大程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。

      5.箱体左侧具Ø50mm测试孔1个,可供外加电源负载配线测试部件。

      半导体材料冷热冲击试验箱控制系统:

      高温冲击3箱:Rt℃~ +150℃/5 MIN  RT℃~ +150℃/5 MIN  RT℃~ +150℃/5 MIN

      低温冲击3箱:RT℃~ -65℃/5 MIN  RT℃~ -65℃/5 MIN  RT℃~ -65℃/5 MIN

      高温冲击2箱:-40℃~ +150℃/5 MIN  -55℃~ +150℃/5 MIN  -65℃~ +150℃/5 MIN

      低温冲击2箱:+150℃~ –65℃/5 MIN  +150℃~ -65℃/5 MIN  +150℃~ -65℃/5 MIN

      预热时间:25MIN  30MIN  45MIN  40MIN  50MIN  40MIN   50MIN

      预冷时间:60MIN  75MIN  80MIN  85MIN  85MIN  90MIN   100MIN

      预热温度:+ 60℃ ~ + 200℃  + 60℃ ~ + 200℃  + 60℃ ~ + 200℃

      预冷温度: – 10℃ ~ – 70℃  – 10℃ ~ – 70℃  – 10℃ ~ – 70℃

      高温冲击: + 60℃ ~ + 150℃  + 60℃ ~ + 150℃  + 60℃ ~ + 150℃

      低温冲击:-10℃ ~ – 65℃  -10℃ ~ – 65℃  -10℃ ~ – 65℃

      温度分布均匀度:±2.00℃ 以内(UNDER ±2.00℃)

      仿真负载(KG):2.5  2.5  5  5  5  5   10.0

      半导体材料冷热冲击试验箱

      半导体材料冷热冲击试验箱性能参数系统:

      1.采用进口微电脑大型液晶LCD(320 x 240 Dots)中英文显示控制系统。

      2.高程序记忆容量,可设定储存 120 组程序,大循环设定 9999 Cycles,每段时间大设定 999 Hrs 59Mins。

      3.具有RS-232通讯界面及连接软件,可于电脑荧幕上设计程序、收集测试资料与记录、呼叫程序执行、可实现远程控制。

      4.可独立设定高温、低温、及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或二槽式之功能,具备高低温试验箱的功能。

      5.可在预约开机时间控制中自动提前预热、预冷待机,并可选择起始位置,由高温或低温开始循环或温度冲击,另具备设定循环次数扩自动除霜功能。

      6.出风口与回风口传感器检知控制,风向栅门机构切换时间为10s内完成,冷热冲击温度恢复时间为5min钟内完成。

      7.具有温度线怀直流信号输出到温度记录器,以了解测试条件之状态,进而提高检测信赖度。

      8.运转中发行异常状况,荧幕上即刻自动显示故障原因及提供排除方法,并于发现输入电力不稳时,具有紧急停机装置。

      9.冷冻系统采用二元式低温回路系统设计,采用欧美进口压缩机组,并使用环保冷媒。

      半导体材料冷热冲击试验箱符合标准:

      GJB367.2-87 405温度冲击试验。

      SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式

      SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式

      满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化

      GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则

      GB/T 2423.22-2002温度变化

      QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则

      EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估

      GB/T2423.1-2001低温试验方法

      GB/T2423.2-2001高温试验方法

      半导体材料冷热冲击试验箱

      半导体材料冷热冲击试验箱售后服务:

      1.售前服务:产品销售前为客户免费提供产品技术方案,并可根据客户要求提供现场讲解和技术咨询服务。

      2.售后服务:产品销售后派出人员为客户免费提供产品使用培训,现场指导产品的使用和维护。

      3.质量保证:该产品进行三包,质保期为验收之日起壹年,在保质期内产品发生非人为质量问题,艾思荔公司为客户提供免费维修。

      4.维修服务:我公司对所用产品提供终生维修服务。如产品在质保期外出现故障,维修服务只收取元器件费用。

      5.服务迅捷:我公司承诺客户服务热线在接到客户咨询或维修等信息后4小时内做出回应;维修服务在做出回应后8小时内安排人员到达现场。

    • 广东艾思荔

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