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    • 集成电路,英文为Integrated Circuit,缩写为IC;顾名思义,就是把一定数量的常用电子元件,如电阻、电容、晶体管等,以及这些元件之间的连线,通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。

      检测范围

      电子元器件:电阻器、电容器、电感器、场效应晶体管、三极管、二极管、电连接器等;

      集成电路:数字集成电路(小规模集成电路及大规模集成电路)、半导体集成电路等。

      检测项目

      环境可靠性、机械、物理和寿命试验。

      相关检测标准

      GJB360B 电子及电气元件试验方法 温度冲击试验

      GB/T 2423.11电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Fd:宽频带随机振动–一般要求

      GJB 360A 电子及电气元件试验方法

      GJB 1420A 半导体集成电路外壳总规范

      GJB 128A 半导体分立器件试验方法

      GJB 3157 半导体分立器件失效分析方法和程序

      GJB 3233 半导体集成电路失效分析程序和方法

      GJB 548A 微电子器件试验方法和程序

      GJB 548B 微电子器件试验方法和程序

      GJB 5914 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法

      GJB128A 半导体分立器件试验方发方法1071密封

      GB/T17574半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路

      GJB597A 半导体集成电路总规范

      GB/T6798半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

      GB/T4587半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

      GB/T4586半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

      GB/T 4023 半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

      GB/T2693 电子设备用固定电容器

      GB/T5729 电子设备用固定电阻器

      GJB1217A 电连接器试验方法等。

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