• 注册
  • 可靠性试验 可靠性试验 关注:518 内容:3488

    高压蒸煮试验(HAST)

  • 查看作者
  • 打赏作者
  • 当前位置: 可靠性网 > 可靠性技术 > 可靠性试验 > 正文
  • 可靠性试验
  • 高压蒸煮试验(HAST)介绍:

    高压蒸煮试验即为高温,高湿,高气压测试,是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热的能力。金鉴实验室可提供高压蒸煮试验服务,应用于电子产品质量评估、失效分析、可靠性测试等。

    测试范围:

    温度范围:105~142.9℃

    湿度范围:75%~100%RH

    压力范围:0.02~0.186Mpa

    参照测试标准:

    《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)》 GB/T 4937.4-2012

    《高加速湿热应力试验》JESD22-A110D-2010

    《非气密固态表面贴装器件 潮湿/再流焊敏感度分级》IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008

    案例分享:

    客户委托送测LED灯珠,要求进行高压蒸煮实验,评估灯珠试验后是否存在剥离、胶裂异常。

    高压蒸煮试验(HAST)

    样品放入 PCT 试验箱内

    高压蒸煮试验(HAST)

     

    测试前              72小时高压蒸煮试验后

    高压蒸煮试验(HAST) 

    测试前                96小时高压蒸煮试验后

    请登录之后再进行评论

    登录
  • 江苏拓米洛环境试验设备有限公司
  • 可靠性工程软件ReliaSoft中国总代理上海山外山机电
  • 发布内容
  • 做任务
  • 动态
  • 风格
  • 到底部
  • 帖子间隔 侧栏位置: