解析电阻器常见的失效模式与失效机理 可靠性设计 15年5月8日 编辑 cissdata 取消关注 关注 私信 一、电阻器的主要失效模式与失效机理为: 开路:主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落,基体断裂,引线帽与电阻体脱落。 阻值漂移超规范:电阻膜有缺陷或退化,基体有可动钠离子,保护涂层不良。 引线断裂:电阻体焊接工艺缺陷,焊点污染,引线机械应力损伤。 短路:银的迁移,电晕放电。 二、失效模式占失效总比例表 1、线绕电阻 CISS元器件 元器件行业最有态度的微信公众号 ciss,最权威的元器件、可靠性信息共享平台 每一天,都有新的期待… 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏 可靠性