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    IC产品可靠性简介

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  • IC产品可靠性简介

    謝國華荷聯華電子公司
    品質與可靠度保證部副理

    摘要
    隨著IC製程技術的進步與品質意識的不斷提昇,人們對IC產品可靠度之要求也越來越高。
    本文簡介IC產品故障率對時間的關係-浴缸曲線(bathtubcurve)、IC產品故障率FIT的計算、IC產品可靠度的評估方式
    -加速測試的理論與模型及主要的IC產品可靠度測試項目。讓大家對IC產品可靠度有一簡單的認識。

    關鍵詞
    可靠度(Reliability);浴缸曲線(bathtubcurve);故障率單位(FailureunIT,FIT);
    加速測試(AcceleratedTesting);加速因子(AccelerationFactor)

    前言
    近年來,IC工業已成為我國重要的經濟來源。而IC技術的發展更是突飛猛進,並不斷與先進國家縮小差距,甚至超過。也由於人類對IC的依賴日深,因此半導體技術不斷朝更細線寬的微細加工技術發展。從90年代初期的次微米技術,進步到2000年的0.18微米的深次微米技術。不僅在面積上縮小50倍以上,更大幅提昇了IC的性能與應用範疇。同時隨著技術的進步,人們對品質的要求亦不斷的提高。而可靠度又為品質的核心,故人們對IC可靠度之要求也就越來越嚴苛。圖一為SIA(SemiconductorIndustryAssociation)對IC可靠度預測的里程碑[1]。圖中說明代表IC可靠度的長期故障率(Longtermfailurerate)從90年代的數十FIT(FailureunIT)的要求,進步到現今數FIT的要求。

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    不错!LZ是搞IC测试的?什么时候介绍下这方面的东东!
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    verygoof
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    谢谢! 收下了
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    Lv.1
    谢谢了
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    Lv.1
    这篇文章写的不错
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    Lv.2
    正遇到类似问题,下来学学!:handshake
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    了解一下
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    不错的资料:D
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    Lv.4
    谢谢分享,下来看看先!
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    收下!谢谢:)
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