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    Reliability enhancement of electronic packages

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     Reliabilitygrowthtestinginvolvestheselectionofoptimaldesignparameterstoenhanceaproduct’sreliability.This paperproposesasplitplotexperimentaldesignthataccommodatestherestrictiononrandomizationontheorderofexperimentalrunscausedbytheexperimentalnatureofacceleratedreliabilitytesting.Theproposedexperimental designprovidesstatisticallyrelevantsolutionsaboutthechoiceofdesignparameters,intermsoftheirreliabilityimpact, inamuchshortertime.Adegradationmodelthataidsinpredictingthefailuretimeforthegivenproblemfurther supplementsthisdiscussion.

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    Reliability enhancement of electronic packages by design of optimal parameters.pdf
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