加速寿命试验推算公式中活化能(Ea)选取标准！！！

热激活能即失效与温度的影响，不通器件不一样，有好些方法。对于板卡，可用预计法，也可以用加权平均法。

特别想问一下，若是研究塑料的加速试验，那式中的Ea又该怎样选取呢？有特定的值可以提供吗？

谢谢分享

[quote]聽五所的教師說:貝爾手冊中有規定,

但不知道誰有貝爾手冊?
MASIZE发表于2010-9-1611:49[url=pid=82370&ptid=7534][/url][/quote]

就是TelcordiaSR-332(=BellcoreTR-332)

激活能与失效机理有关。不同的时效模式Ea的取值是不同的。

目前仅接触电子产品。。看到的资料都是去Ea=0.67….有木有具体的材料教一下如何得出一个新产品的Ea取值？？

好像很难取，差0.1就差很多了，而一般公司的产品都很多，每款都是不会相同的，我现在是用0.7做的，之前做一家外企的产品时，他们取0.4

多谢赐教

[url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-6057-1-1.html[/url]
7楼附件可以看看

强烈要求提供出处

有人能够分享选取方法不

可參考可靠度預估標準或手冊，例如MIL-HDBK-217F2、TelcordiaSR-332(=BellcoreTR-332)、IEC61709、IEC/TR62380(=UTEC80-810=RDF2000)等，至於可信度那就看相信不相信這些標準了！

我给公司设计的就是0.6，哈哈哈哈，蒙对了

聽五所的教師說:貝爾手冊中有規定,

但不知道誰有貝爾手冊?

[b]回复[url=pid=62593&ptid=7534]2#[/url][i]fanweipin[/i][/b]

能分享下你说提到的这些规范不？

楼上给的值只是人家一般的经验值吧，但不知道这个Ea又是通过什么来算出来呢，有什么资料说明吗？

感谢fanweipin

很好，终于找到Ea的出处！

正是我要找到东东，谢谢。

根据各种材料和产品，集成电路板来选取，有另外的参考标准清单，专门列举了

那机械产品的可靠性加速寿命试验怎么选取呢？

非常感谢！！！

[quote]原帖由[i]jason0327[/i]于2009-10-2714:30发表[url=pid=62582&ptid=7534][/url]
那位前辈知道，还望不吝赐教，谢谢！[/quote]
以下是引用某讲议上的：
[quote]一般電子產品在早夭期失效之Ea為0.2~0.6eV,正常有用期失效之Ea趨近於1.0eV;衰老期失效之Ea大於1.0eV.

根據Compaq可靠度工程部(CRE)的測試規範,Ea是機台所有零件Ea的平均值.如果新機種的Ea無法計算,可以將Ea設為0.67eV,做常數處理.

目前,Dell和HP,Motorola等機種的Ea設為0.6eV.後
續將統一定為0.67eV.
[/quote]