电子元器件（朔封器件）贮存可靠性？ 可靠性技术 可靠性试验 09年2月17日 编辑 chenzt_2002 取消关注 关注 私信 要做一个塑封器件贮存可靠性方面的课题，1年的时间，需要做些加速贮存方面的试验，可现在还没有一点头绪呢。不知各位同仁有没有相关方面的技术资料，非常感谢。 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
txz06 lv5lv5 09年2月17日 可靠性评估领域中环境因子的研究进展 文件下载：可靠性评估领域中环境因子的研究进展.pdf 密码或说明： 大小：235KB attach文件下载后改名pdf后缀
txz06 lv5lv5 09年2月17日 具有初始失效的电子产品的加速贮存可靠性预测模型 文件下载：具有初始失效的电子产品的加速贮存可靠性预测模型.pdf 密码或说明： 大小：409KB attach文件下载后改名pdf后缀
txz06 lv5lv5 09年2月17日 贮存_使用可靠性模型估计问题的研究 文件下载：贮存_使用可靠性模型估计问题的研究.pdf 密码或说明： 大小：114KB attach文件下载后改名pdf后缀
txz06 lv5lv5 09年2月17日 电子元器件的贮存可靠性及评价技术 [[i]本帖最后由txz06于2009-2-1720:51编辑[/i]] 文件下载：电子元器件的贮存可靠性及评价技术.pdf 密码或说明： 大小：543KB attach文件下载后改名pdf后缀
txz06 lv5lv5 09年2月17日 摘要:基于电子元件寿命试验的二项型数据信息，提出了电子元件贮存可靠性评估与预测 的贝叶斯方法。利用环境因子将电子元件产品在不同贮存条件下的试验数据进行折合，依 据贝叶斯理论对小样本下可能出现的数据“数据倒挂”进行预处理，并评估出其在各已知 贮存时间点上的可靠度，再运用配曲线法得到产品的贮存寿命分布，进而对其贮存可靠度 进行合理预测。最后，通过一个实例说明了方法的可行性。 [[i]本帖最后由txz06于2009-2-1720:51编辑[/i]] 文件下载：电子元器件贮存可靠性评估与预测的贝叶斯方法.pdf 密码或说明： 大小：1728KB attach文件下载后改名pdf后缀
txz06 lv5lv5 09年2月17日 做课题的话，我建议你去EI查一些国外发表过的paper. 毕竟是课题，怎么这是学术啊！ 标准之类的，太工程了，对你发表论文没啥帮助的。 ———————————————————–
不错的资料
文件包有点多，要好好攒金币了
谢谢
正需要找这方面资料,谢谢分享!
可惜啊，看不到的，不知道是什么内容啊，只能等啊
TXZ06了不起，提供了这么多有用的资料。谢谢！
可靠性评估领域中环境因子的研究进展
塑封的，潮湿比较敏感，用MSD吧。
具有初始失效的电子产品的加速贮存可靠性预测模型
贮存_使用可靠性模型估计问题的研究
电子元器件的贮存可靠性及评价技术
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摘要:基于电子元件寿命试验的二项型数据信息，提出了电子元件贮存可靠性评估与预测
的贝叶斯方法。利用环境因子将电子元件产品在不同贮存条件下的试验数据进行折合，依
据贝叶斯理论对小样本下可能出现的数据“数据倒挂”进行预处理，并评估出其在各已知
贮存时间点上的可靠度，再运用配曲线法得到产品的贮存寿命分布，进而对其贮存可靠度
进行合理预测。最后，通过一个实例说明了方法的可行性。
[[i]本帖最后由txz06于2009-2-1720:51编辑[/i]]
做课题的话，我建议你去EI查一些国外发表过的paper.
毕竟是课题，怎么这是学术啊！
标准之类的，太工程了，对你发表论文没啥帮助的。
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