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    【请教】加速模型

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    • 可靠性试验
    • Lv.1

      [i=s] 本帖最后由 chenbhu 于 2019-2-13 15:53 编辑 [/i]

      1.AF=exp{(Ea/K)*(1/Tu-1/Ts)+(RHs2-RHu2)
      2.AF=(RHt/Rhu)^n*exp[(Ea/k)*(1/Tu-1/Tt)]

      这两个都是关于温度、湿度的加速模型
      其中第1个在本版看到过,但不知是什么模型?
      第二个知道是Hallberg-peck模型,其中n一般是2-3之间,那么这个n取值都相关标准或者经验吗?
      这两个模型计算得到的AF其实差的还比较多,尤其是用Hallberg-peck模型得到的加速因子比较大,请问一般电子产品,选用哪个模型合适呢

      Lv.1

      似乎还有个劳森加速模型,加速因子算下来更大

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