各位大侠,小弟现在对于可靠性试验中的高温存储与高温高湿条件的加速因子的计算有所领悟,但是目前还有一个就是低温存储条件下的加速因子的讨论,因为按照Arrhenius加速模型中是根据温度升高加速器件内部的化学反应的进行速率从加速产品失效的产生,如果按照这个理论那么在低温状态下就会延长产品的使用寿命,是不是?对于这个问题还请个位大侠进行指导!如何进行关于低温加速因子的计算!
关于低温存储试验的加速因子的计算如何进行
morrison
據我瞭解，Arrhenius溫度加速模型適於常溫(25degC)以上的高溫加速，曾經看過IC低溫加速的論文，但是那是另外一種失效機理。有空會繼續探討此一議題。
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GUCCI
Lv.3
学习。
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338
Lv.4
我是最棒的
[quote]原帖由[i]morrison[/i]于2007-9-823:38发表
據我瞭解，Arrhenius溫度加速模型適於常溫(25degC)以上的高溫加速，曾經看過IC低溫加速的論文，但是那是另外一種失效機理。有空會繼續探討此一議題。[/quote]
Arrhenius加速模型，一直看到的例子都是高温加速，还真不知道低温加速方面有什么理论模型呢。。
morrison显然是这方面的高手，希望有机会给大家释疑一下。。
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oyboooooooo
Lv.2
Arrhenius加速模型,只是适用于高温加速吗?
盼望高手出来解释下低温加速该用什么模型.
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338
Lv.4
我是最棒的
再顶一下，看看有没有哪位高手接触过低温加速的问题。
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ttr1200
Lv.2
谢谢大家还希望能够尽快帮助小弟解决我的困难！谢谢诸位大侠了！
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xxyyxxyy
Lv.1
好象还真的没怎么看到过有关低温方面的加速理论，等待高手解答中
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xxyyxxyy
Lv.1
好象还真的没怎么看到过有关低温方面的加速理论，等待高手解答中
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Jack315
Lv.5
有意思 ;P
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cooooldog
Lv.1
这个需要试验数据的吧,Arrhenius理论不一定总是有用的
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