最近在看GJB/Z35-93元器件降额准则时,附录A中:
A1:晶体管的失效率模型
晶体管基本失效率λb模型
[attach]7542[/attach]
式中:A——失效率换算系数;
e——自然对数底,2.718;
Nt,P——器件中的形状参数;
Tjm——最高允许结温(0功率点),℃;
T——工作温度(环境或壳温),℃;
△T——Tjm与额定功率点最高允许温度之差,℃;
S——应力比或降额因子。
1.现在不知道晶体管的基本失效率λb这个公式是怎么来的?查了好多的资料也找不到。
2.上面只列出了晶体管的基本失效率模型,那么如光电器件,电容器也应该有相应的失效模型,现在不知道这些模型是怎样的?在查阅
GJB/299C-2006电子设备可靠性预计手册,也不能找到类似晶体管的基本失效率λb模型。
现希望有高人能够解答一下,不胜感激!
隐藏内容需要付费才可以看见
马上购买