哪位达人能提供等同于IEC61000-4-2:2008的GB17626.2最新版本资料？
附:SJ-T11399-2009半导体发光二极管芯片测试方法
哪位能提供等同于IEC 61000-4-2:2008的GB 17626.2最新版本资料(SJ-T11399-2009 )？
sunjj
Lv.4
靓号：116
[i=s]本帖最后由sunjj于2010-12-2910:39编辑[/i]
1、标准号GB/T17626.2-2006
2、中文标准名称电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验
3、状态[color=Red]现行有效[/color]
SJ-T11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法.part1.rar
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i@Suzhou
Lv.2
Sunjj老大，GB/T17626.2-2006等效于IEC61000-6-4-2:2001,现有2008版与其主要差异是什么？大致看了一下，好像只有测试构图有差别，2001版静电放电发生器是放在测试桌上，而2008版是放在接地ground上；是这样理解的吗？
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sunjj
Lv.4
靓号：116
将IEC61000-6-4-2:2001和2008版比对一下不就可以了。
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bjkkxtest
Lv.4
sujj的试验试验标准很多哈，呵呵，支持sujj给我们带来了方便。
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DENKY
Lv.4
谢谢分享好东西！
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aaajack
Lv.2
谢谢分享
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mengzm
Lv.3
學習一下
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RAINSUN
Lv.1
xiexie
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