哪位能提供等同于IEC 61000-4-2:2008的GB 17626.2最新版本资料(SJ-T11399-2009 )？ 可靠性技术 新手提问 10年12月29日 编辑 ice_fang 取消关注 关注 私信 哪位达人能提供等同于IEC61000-4-2:2008的GB17626.2最新版本资料？ 附:SJ-T11399-2009半导体发光二极管芯片测试方法 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
ice_fangA lv3lv3 10年12月29日 Sunjj老大，GB/T17626.2-2006等效于IEC61000-6-4-2:2001,现有2008版与其主要差异是什么？大致看了一下，好像只有测试构图有差别，2001版静电放电发生器是放在测试桌上，而2008版是放在接地ground上；是这样理解的吗？
sunjj lv5lv5 10年12月29日 [i=s]本帖最后由sunjj于2010-12-2910:39编辑[/i] 1、标准号GB/T17626.2-2006 2、中文标准名称电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 3、状态现行有效 文件下载：SJ-T11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法.part1.rar 密码或说明： 大小：3906KB 文件下载：SJ-T11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法.part2.rar 密码或说明： 大小：3717KB
xiexie
學習一下
谢谢分享
谢谢分享好东西！
sujj的试验试验标准很多哈，呵呵，支持sujj给我们带来了方便。
将IEC61000-6-4-2:2001和2008版比对一下不就可以了。
Sunjj老大，GB/T17626.2-2006等效于IEC61000-6-4-2:2001,现有2008版与其主要差异是什么？大致看了一下，好像只有测试构图有差别，2001版静电放电发生器是放在测试桌上，而2008版是放在接地ground上；是这样理解的吗？
[i=s]本帖最后由sunjj于2010-12-2910:39编辑[/i]
1、标准号GB/T17626.2-2006
2、中文标准名称电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验
3、状态现行有效