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    哪位能提供等同于IEC 61000-4-2:2008的GB 17626.2最新版本资料(SJ-T11399-2009 )?

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    哪位达人能提供等同于IEC61000-4-2:2008的GB17626.2最新版本资料?

    附:SJ-T11399-2009半导体发光二极管芯片测试方法

    Lv.4
    靓号:116
    [i=s]本帖最后由sunjj于2010-12-2910:39编辑[/i] 1、标准号GB/T17626.2-2006 2、中文标准名称电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 3、状态[color=Red]现行有效[/color]

    SJ-T11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法.part1.rar
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    SJ-T11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法.part2.rar
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    Lv.2
    Sunjj老大,GB/T17626.2-2006等效于IEC61000-6-4-2:2001,现有2008版与其主要差异是什么?大致看了一下,好像只有测试构图有差别,2001版静电放电发生器是放在测试桌上,而2008版是放在接地ground上;是这样理解的吗?
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    Lv.4
    靓号:116
    将IEC61000-6-4-2:2001和2008版比对一下不就可以了。
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    sujj的试验试验标准很多哈,呵呵,支持sujj给我们带来了方便。
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    Lv.4
    谢谢分享好东西!
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    Lv.2
    谢谢分享
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    Lv.3
    學習一下
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    Lv.1
    xiexie
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