高加速寿命试验（HALT）与高加速应力筛选（HASS）

每家公司都有自己对HALT&HASS的独到见解，下面的一些应该可以给大家一些启发了。辨证的去看吧。
在过去几年中，单板计算机设计师已看到处理器的速度和整个电路板的性能已得到很大提高，但是，军用电路板的试验方法仍然一直采用高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选（HASS）。

据美国加洲Vista控制设备公司的市场部主任介绍，该公司一直对电路板进行HLAT和HASS，大部分的HASS是作为环境应力筛选的一部分进行的。HALT因费用可能很昂贵而在有限的产品上进行，在进行HALT过程中，经常将产品试验到破坏后结束，当HALT达到某一极限后，便产生HASS的试验剖面。在进行HALT的过程中，通过增加应力试验来模拟产品在整个寿命期的工作。

Vista控制公司还利用HALT来确定产品的平均故障间隔时间（MTBF）。当设计师想真实了解一个产品是如何发生故障的，HALT是一种正确的选择。对任务与寿命关键的产品，它是一种理想的试验方法。

Dy4公司也对该公司产品进行HALT，作为一种设计完整性试验。该公司的市场部主任认为：HALT对确定产品寿命期的可靠性是无用的，但确实可大致了解产品的设计余量，使设计师能够根据具体的环境条件正确选择零部件。

在产品进行HALT和HASS试验之前，Dy4公司的工程师们对这些产品进行了长时间的试验，包括调试（debug）和诸如电压和温度的功能试验。HALT完成后，把HALT结果转换成HASS和ESS。
加拿大通用动力公司通常是在高可靠性的军用产品上进行HALT和HASS。该公司的商务经理认为：HALT对确定产品的环境范围是很有用的，他们也是通过进行HALT获得数据后再转换成HASS的试验剖面。一个公司进行HALT和HASS的数量取决于具体产品的特性和用户的要求。